Transistores de película delgada basados en óxido de Zinc por spray pyrolysis ultrasónico de alta frecuencia a baja temperatura



Título del documento: Transistores de película delgada basados en óxido de Zinc por spray pyrolysis ultrasónico de alta frecuencia a baja temperatura
Revue: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000447267
ISSN: 0035-001X
Autores: 1
1
2
Instituciones: 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Instituto de Ciencias, Puebla. México
2Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, Departamento de Electrónica, Puebla. México
Año:
Periodo: Jul-Ago
Volumen: 67
Número: 4
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, teórico
Resumen en español En este artículo, se reporta la fabricación de transistores de película delgada con óxido de zinc (ZnO TFTs) sobre sustratos de plástico por spray pyrolysis ultrasónico de alta frecuencia a baja temperatura. La máxima temperatura de fabricación fue de 200o C. Spin-on glass fue usado como dieléctrico de compuerta. El tereftalato de polietileno (PET) es usado como sustrato de plástico. Los ZnO TFTs exhiben una movilidad de electrones de 1.25 cm2/Vs y un voltaje de umbral de 10.5 V, mientras la relación de corriente on/off fue de 104. Adicionalmente, la densidad de trampas en la capa activa y en la interfaz dieléctrico/semiconductor es calculada. Además, capacitores metal-dieléctrico-metal fueron fabricados sobre plástico y caracterizados para evaluar el desempeño del dieléctrico de compuerta
Resumen en inglés In this work, the fabrication of zinc oxide thin film transistors (ZnO TFTs) on plastic substrates by High-frequency Ultrasonic Spray Pyrolysis at Low Temperature is presented. The maximum fabrication temperature was 200◦C. Spin-on glass was used as gate insulator. Polyethylene terephthalate is used as plastic substrate. The ZnO TFTs exhibit an electron mobility of 1.25 cm2/Vs and a threshold voltage of 10.5 V, while the on/off current ratio was of 104. In addition, the trap density in active layer and at the insulator/semiconductor interface is extracted. Moreover, Metal-Insulator-Metal capacitors were fabricated on plastic and characterized in order to evaluate the gate insulator
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física,
Transistores de película delgada,
Oxido de Zinc,
Pirólisis por pulverización ultrasónica,
Spin-on glass,
Electrónica flexible
Keyword: Physics,
Thin-film transistors,
Zinc oxide,
Ultrasonic spray pyrolysis,
Spin-on glass,
Flexible electronics
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