IHD para medir simultáneamente en 2D, usando dos fuentes independientes de luz laser con longitud de coherencia grande
Título del documento: IHD para medir simultáneamente en 2D, usando dos fuentes independientes de luz laser con longitud de coherencia grande
Revue: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000362637
ISSN: 0035-001X
Autores: 1
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Instituciones: 1Universidad Autónoma de Zacatecas, Unidad Académica de Física, Zacatecas. México
Año:
Periodo: Mar-Abr
Volumen: 59
Número: 2
Paginación: 117-122
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, teórico
Resumen en español Se presenta un arreglo para medir simultáneamente dos componentes ortogonales de deformación en la superficie de un objeto. El arreglo, basado en interferometría holográfica digital, usa dos láseres para grabar independientemente dos hologramas en un sólo cuadro de la cámara CCD. El arreglo se prueba con una placa metálica que cambia ligeramente sus dimensiones al ser calentada Trabajos recientes en el desarrollo de este tipo de arreglos, muestran limitantes en el hecho de no poder usar fuentes de luz con longitud de coherencia relativamente grandes. Este arreglo esta exento de esa limitante
Resumen en inglés One presents an arrangement to measure simultaneously two orthogonal components of deformation in the surface of an object. The arrange-ment, based in digital holographic interferometry, uses two lasers to record two holograms independently in a single frame from the camera CCD. The arrangement is proved by a metallic plate that changes lightly his dimensions to be heated. Recent works in the development of this type of arrangement, show constraints in the fact to not use light sources with relatively large coherence length. This arrangement is exempt from this limitation
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Optica,
Interferometría holográfica,
Patrones de Speckle y Moiré,
Pruebas ópticas,
Objetos
Keyword: Physics and astronomy,
Optics,
Holographic interferometry,
Speckle and Moire patterns,
Optical testing,
Objects
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