| Revue: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000233953 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autores: | Gracia Témich, F1 Cornejo Rodríguez, A Granados Agustín, F |
| Instituciones: | 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Tonantzintla, Puebla. México |
| Año: | 2005 |
| Periodo: | Feb |
| Volumen: | 51 |
| Número: | 1 |
| Paginación: | 104-109 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental, descriptivo |
| Resumen en español | Se hizo un análisis de diferentes estructuras de las ararías de los soportes del espejo plano de un telescopio tipo Newtoniano, para reducir los efectos de difracción de la araña en las imágenes producidas por el telescopio. Después de aplicar diferentes soluciones numéricas usadas por diferentes autores, y sin resultados satisfactorios, una nueva solución basada en el análisis de patrones de difracción de aberturas circulares, nos permitió encontrar una reducción satisfactoria de los patrones de difracción en las imágenes producidos por los soportes del espejo plano secundario. Mostramos resultados obtenidos en el laboratorio, usando fuentes de luz blanca y láser de He-Ne |
| Resumen en inglés | An analysis of different structures of the spiders supporting the flat mirror of a Newton type telescope was made, in order to reduce the diffraction effects of the spider on the images produced by the telescope. After applying different numerical solutions used by different authors, and without satisfactory results, a novel solution based on the analysis of the diffraction pattern of a circular aperture allowed us to find a satisfactory reduction of the diffraction pattern in the image produced by the support of the secondary flat mirror. Experimental laboratory results will be shown, using white and He-Ne laser light sources |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Optica, Difracción, Dispersión, Instrumentos, Equipos, Soporte |
| Keyword: | Physics and astronomy, Optics, Diffraction, Scattering, Instruments, Equipment, Support |
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