| Revue: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000427077 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autores: | Fermin, J.R1 Salcedo, D.Y1 Durante Rincón, C1 Castro, J.A1 |
| Instituciones: | 1Universidad del Zulia, Facultad Experimental de Ciencias, Maracaibo, Zulia. Venezuela 2Universidad Rafael Urdaneta, Facultad de Ingeniería, Maracaibo, Zulia. Venezuela 3Universidad Estatal del Sur de Manabí, Facultad de Ciencias Naturales y de la Agricultura, Jipijapa, Manabí. Ecuador |
| Año: | 2017 |
| Periodo: | Jul-Ago |
| Volumen: | 63 |
| Número: | 4 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, teórico |
| Resumen en español | En este trabajo estudiamos las propiedades microestructurales de compuestos ternarios AgIn5VI8 (VI= S, Se, Te) mediante la técnica de Difracción de Rayos-X (DRX). El ancho de línea del perfil de DRX es medido como función del ángulo de difracción. Los parámetros microestructurales, tales como, el tamaño medio de grano, microtensión y densidad de dislocaciones cristalinas, son obtenidos a partir de un análisis de Tensión/Tamaño basado en la ecuación modificada de Scherrer para perfiles Gaussianos. La distribución de las dislocaciones cristalinas corresponde a la cola de una función de Gaussiana, indicando que estas conforman arreglos aleatorios en los granos |
| Resumen en inglés | In this work, we have study the microestructural properties of the ternary compounds AgIn5VI8 (VI= S, Se, Te) by X-ray diffraction technique (XRD). The linewidth of the XRD profile is measured as function of the diffraction angle. Structural parameters such as, average grain size, microstrains, and crystalline dislocation density, are obtained on the framework of a strain/size analysis based on the modified Scherrer equation for Gaussian profiles. The crystalline dislocations arrange according to a Gaussian distribution function, indicating that these dislocations are randomly distributed within the grains |
| Disciplinas: | Filosofía |
| Palabras clave: | Física de materia condensada, Análisis de tensión, Ecuación modificada de Scherrer, Parámetros microestructurales, Compuestos ternarios |
| Keyword: | Condensed matter physics, Strain analysis, Scherrer modified equation, Microstructural properties, Ternary compounds |
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