Analysis of chromatic effects in the shift-and-add method



Título del documento: Analysis of chromatic effects in the shift-and-add method
Revue: Revista mexicana de astronomía y astrofísica
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000350144
ISSN: 0185-1101
Autores: 1
1
Instituciones: 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Astronomía, México, Distrito Federal. México
Año:
Periodo: Oct
Volumen: 44
Número: 2
Paginación: 325-329
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, teórico
Resumen en español Se estudian los efectos crom aticos en sistemas de optica adaptativa de desplazar y sumar (\Shift-And Add", SAA) mediante simulaciones numericas. Los efectos cromaticos que investigamos surgen cuando se efectuan medidas y correcciones a distintas longitudes de ondas. El estudio de las propiedades cromaticas de la t ecnica SAA es util para el diseno de sistemas de optica adaptativa SAA. Tambien es importante para la reducci on de datos de observaci on obtenidos mediante espectroscop a de motas. Se presenta la comparacion de dos tecnicas: SAA y \tip-tilt", y se senalan las ventajas de los sistemas adaptativos SAA
Resumen en inglés Chromatic effects in shift-and-add (SAA) adaptive systems are considered by means of computer simulations. Chromatic e ects under investigations arise when measurements and corrections are performed in di erent wavelengths. A study of chromatic properties of SAA technique is useful for designing of SAA adaptive systems. Also it is important for data reduction of speckle-spectroscopic observations. The comparison of two approaches of low order adaptive corrections (SAA and tip-tilt) is presented. The advantages of SAA adaptive systems are outlined
Disciplinas: Física y astronomía,
Ingeniería
Palabras clave: Astronomía,
Optica,
Ingeniería de instrumentos,
Optica adaptativa,
Efectos cromáticos,
Speckle,
Interferometría
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Astronomy,
Optics,
Instrumentation engineering,
Adaptive optics,
Chromatic effects,
Speckle,
Interferometry
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