Medicion de la resistencia de contacto en dispositivos planares



Título del documento: Medicion de la resistencia de contacto en dispositivos planares
Revue: Revista cubana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000077156
ISSN: 0253-9268
Autores:
Año:
Volumen: 7
Número: 2
Paginación: 77-81
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Resistencia,
Sistemas bidimensionales,
Medidas,
Circuitos integrados
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Resistance,
Bidimensional systems,
Measurement,
Integrated circuits
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)