Técnicas de microscopía electrónica usadas en el estudio de nanopartículas



Título del documento: Técnicas de microscopía electrónica usadas en el estudio de nanopartículas
Revue: Mundo nano (en línea)
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000445503
ISSN: 2448-5691
Autores: 1
Instituciones: 1Centro de Investigación en Materiales Avanzados S.C., Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Chihuahua. México
Año:
Periodo: Jul-Sep
Volumen: 13
Número: 25
Paginación: 101-131
País: México
Idioma: Español, inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, descriptivo
Resumen en español Los fenómenos involucrados en la interacción de electrones con la materia son señales adecuadas para el estudio de nanopartículas. Se explica cada tipo de interacción para conocer en detalle las características de los nanomateriales como: la forma, el tamaño, la cristalinidad y la composición. En este trabajo, se describen brevemente la arquitectura y las características específicas de tres microscopios electrónicos de transmisión con el objetivo de demostrar cómo se puede estudiar y determinar las propiedades físicas de los nanomateriales utilizando técnicas involucradas con estos instrumentos. También se presenta un estudio sistemático y detallado de dos tipos de nanopartículas, interpretando específicamente cada resultado experimental obtenido con diferentes capacidades de cada microscopio electrónico utilizado. Se refuerzan las metodologías expuestas en la caracterización de los materiales incluyendo, como ejemplos, varios estudios de nanomateriales
Resumen en inglés The phenomena involved in the interaction between electrons and matter are suitable signals for the study of nanoparticles. Each type of interaction is explained to know in detail the characteristics of nanomaterials such as: shape, size, crystallinity and composition. This work briefly describes the architecture and specific characteristics of three transmission electron microscopes, with the aim of demonstrating how the physical properties of nanomaterials can be studied and determined using techniques related to these instruments. A systematic and detailed study of two types of nanoparticles is also presented, specifically interpreting each experimental results obtained with different capacities of each electron microscopes used. The methodologies exposed in the materials characterization are reinforced with the inclusion of diverse nanomaterials studies
Disciplinas: Física y astronomía,
Ingeniería
Palabras clave: Física atómica y molecular,
Ingeniería de materiales,
Microscopía electrónica,
Nanomateriales,
Nanotecnología,
Difracción de electrones,
Oxidos semiconductores
Keyword: Atomic and molecular physics,
Materials engineering,
Electron microscopy,
Nanomaterials,
Nanotechnology,
Electron diffraction,
Semiconductor oxides
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