Revue: | Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000129124 |
ISSN: | 0185-4607 |
Autores: | Juarez, R1 Pérez, G |
Instituciones: | 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Dep Semiconductores, Puebla. México |
Año: | 1988 |
Periodo: | Oct |
Número: | 10 |
Paginación: | 289-299 |
País: | México |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Teórico, experimental |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería de control, Ingeniería electrónica, Microcomputadoras, Probador, Diodos |
Keyword: | Engineering, Control engineering, Electronic engineering, Microcomputers, Diodes, Tester |
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