Mole testability
Título del documento: Mole testability
Revista: Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000110358
ISSN: 0185-4607
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Guadalajara, Jalisco. México
Año:
Periodo: Oct
Número: 12
Paginación: 557-568
País: México
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico, experimental
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Circuitos integrados,
Procesador digital-señales,
Filtros,
Pruebas,
Fabricación
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
Integrated circuits,
Digital signal processor,
Filters,
Tests,
Manufacture
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