| Revue: | Journal of applied research and technology |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000353907 |
| ISSN: | 1665-6423 |
| Autores: | Noriega, J. R1 Vera Marquina, A1 Acosta Enríquez, C1 |
| Instituciones: | 1Universidad de Sonora, Departamento de Investigación en Física, Hermosillo, Sonora. México |
| Año: | 2010 |
| Periodo: | Ago |
| Volumen: | 8 |
| Número: | 2 |
| Paginación: | 200-210 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental, aplicado |
| Resumen en español | En este trabajo se presenta la automatización de un instrumento I–V desarrollado para la caracterización de dispositivos electrónicos en aplicaciones tanto en docencia como en investigación. Este instrumento virtual puede ser usado para ilustrar los principios de la medición, instrumentación, fundamentos de la electrónica, programación, pruebas eléctricas de dispositivos semiconductores y caracterización de dispositivos discretos en substrato. Consiste de un electrómetro Keithley, modelo 6514, una fuente de voltaje programable BK Precision modelo 1770, medidor Keithley modelo 2400–LV, un multímetro digital Agilent modelo 34401 y una computadora PC con software LabVIEW. Los instrumentos son interconectados usando el protocolo IEEE 488. Las curvas características de los dispositivos son graficadas a partir de los datos medidos y previo procesamiento computacional. Este instrumento se usa en cursos de física electrónica y en cursos avanzados de diseño VLSI y en la caracterización de materiales semiconductores y dispositivos. Este artículo describe el diseño del instrumento, implementación y experimentos de caracterización |
| Resumen en inglés | In this paper, an accurate I–V virtual instrument (VI) that has been developed to characterize electronic devices for research and teaching purposes is demonstrated. The virtual instrument can be used to highlight principles of measurement, instrumentation, fundamental principles of electronics, VI programming, device testing and characterization in wafer or discrete device level. It consists of a Keithley electrometer, model 6514, a programmable power supply BK Precision, model 1770, a Keithley source meter, model 2400–LV, an Agilent digital multimeter, model 34401, a PC computer and LabVIEW software. The instruments are interconnected using an IEEE 488 protocol. The characteristic VI devices graphs are generated from measured data previous computational processing. The instrument is used in basic courses of physical electronics as well as in advance curses of VLSI design and in research work for characterization of semiconductor materials and devices. This paper describes the VI instrument design, implementation and characterization experiments |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Instrumentos de medición, Voltaje, Automatización, Semiconductores |
| Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Measurement instruments, Voltage, Automation, Semiconductors |
| Texte intégral: | Texto completo (Ver HTML) |
