| Revue: | Ingeniería y competitividad |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000420291 |
| ISSN: | 0123-3033 |
| Autores: | Bernal, Andrés M1 Ardila, Angel M1 Vega Verdugo, Marisol1 |
| Instituciones: | 1Universidad Nacional de Colombia, Departamento de Física, Bogotá. Colombia |
| Año: | 2016 |
| Volumen: | 18 |
| Número: | 2 |
| Paginación: | 125-132 |
| País: | Colombia |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
| Resumen en español | Se fabricaron películas delgadas conductoras y transparentes sobre sustratos de vidrio a partir de nano-hilos metálicos por el método spin coating, variando la velocidad de rotación entre 1000 y 9000 revoluciones por minuto. De las capas depositadas se hizo un estudio de sus propiedades morfológicas y estructurales mediante microscopía electrónica de barrido (SEM). Las propiedades eléctricas y ópticas se estudiaron en función del espesor de las capas mediante el método de Van Der Paw y con medidas de transmitancia en el rango entre 350 y 800 nm. Se encuentra una correlación entre el espesor de las capas depositadas y sus propiedades eléctricas y ópticas, presentando menor resistencia de hoja a mayores espesores a la vez que su transmitancia disminuye. Se obtuvieron muestras con resistencia de hoja alrededor de 20 Ω/sq y transmitancia óptica promedio de 77% a 550 nm |
| Resumen en inglés | Transparent conductive thin films on glass substrates from metal nano-wires were produced by the spin coating method by varying the speed of rotation between 1000 and 9000 RPM. Morphological and structural properties of the deposited layers were studied by Scanning Electron Microscopy (SEM). The electrical and optical properties were studied as a function of layer thickness by the Van Der Paw method and transmittance measurements in the range between 350 and 800 nm. A correlation between the thickness of the deposited layers and their electrical and optical properties is obtained, showing less sheet resistance to larger thickness while its transmittance decreases. Samples with sheet resistance of about 20 Ω/sq and with average 77% light transmittance at 550 nm were obtained |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Conductores transparentes, Películas delgadas, Nanoalambres |
| Keyword: | Materials engineering, Transparent conductors, Thin films, Nanowires |
| Texte intégral: | Texto completo (Ver PDF) |
