Revista: | Ingeniería (Mérida, Yuc.) |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000425742 |
ISSN: | 1665-529x |
Autores: | Balderas Zapata, J1 Zapata Torres, M2 mzapatat@ipn.mx Chalé Lara, F2 Peraza Vázquez, H2 |
Instituciones: | 1Instituto Tecnológico de Ciudad Madero, Ciudad Madero, Tamaulipas. México 2Instituto Politécnico Nacional, CICATA, Ciudad Madero, Tamaulipas. México |
Año: | 2008 |
Periodo: | Ene-Abr |
Volumen: | 12 |
Número: | 1 |
Paginación: | 41-50 |
País: | México |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Descriptivo |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería de control, LabVIEW, Control de temperatura, Películas delgadas, Peliculas semiconductoras, Evaporación |
Keyword: | Control engineering, LabVIEW, Thermal control, Thin films, Semiconductor films, Evaporation |
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