Sobre la determinacion de perfiles de impurezas cercanos a la superficie del semiconductor
Título del documento: Sobre la determinacion de perfiles de impurezas cercanos a la superficie del semiconductor
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000099165
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Central de Investigación Digital, Dep Microelectronica, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 10
Número: 1
Paginación: 57-65
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental, descriptivo
Disciplinas: Ingeniería,
Matemáticas
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Matemáticas aplicadas,
Semiconductores,
Impurezas,
Capacitancia-voltaje,
Cálculo
Keyword: Engineering,
Mathematics,
Electronic engineering,
Applied mathematics,
Semiconductors,
Impurities,
Capacitance-voltage,
Calculus
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