Sistema de mediciones automáticas de parámetros electrofísicos y tecnológicos
Título del documento: Sistema de mediciones automáticas de parámetros electrofísicos y tecnológicos
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000098763
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Central de Investigación Digital, Departamento de Microelectrónica, La Habana. Cuba
2Instituto Nacional de Sistemas Automatizados y Técnicas en Computación, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 9
Número: 4
Paginación: 325-335
País: Cuba
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Descriptivo
Disciplinas: Ingeniería,
Ciencias de la computación
Palabras clave: Ingeniería eléctrica,
Ingeniería electrónica,
Semiconductores,
Parámetros,
Medición automática
Keyword: Engineering,
Computer science,
Electrical engineering,
Electronic engineering,
Semiconductors,
Parameters,
Automated measurement
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