Diseno de un probador autonomo de circuitos integrados digitales. Parte 1. Diseno electrico
Título del documento: Diseno de un probador autonomo de circuitos integrados digitales. Parte 1. Diseno electrico
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000086099
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Central de Investigación Digital, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 7
Número: 3
Paginación: 242-248
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Aplicado, descriptivo
Disciplinas: Ingeniería,
Ciencias de la computación
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Probador autonomo,
Circuitos integrados,
Digitalización,
Microprocesadores,
Diseño
Keyword: Engineering,
Computer science,
Electronic engineering,
Autonomous tester,
Integrated circuits,
Digitalization,
Microprocessors,
Design
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)