Optical properties of Cu (In1-xGax)5Se8 from ellipsometric measurements
Título del documento: Optical properties of Cu (In1-xGax)5Se8 from ellipsometric measurements
Revue: Ciencia (Maracaibo)
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000366132
ISSN: 1315-2076
Autores: 1
1
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2
1
Instituciones: 1Universidad del Zulia, Facultad Experimental de Ciencias, Maracaibo, Zulia. Venezuela
2Instituto Universitario de Tecnología de Maracaibo, Maracaibo, Zulia. Venezuela
Año:
Periodo: Abr-Jun
Volumen: 15
Número: 2
Paginación: 234-241
País: Venezuela
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental, aplicado
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería de materiales,
Semiconductores,
Propiedades ópticas,
Elipsometría
Keyword: Engineering,
Materials engineering,
Semiconductors,
Optical properties,
Ellipsometry
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