Revista: | Ciencia e tecnologia de alimentos |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000294292 |
ISSN: | 0101-2061 |
Autores: | Amboni, Renata D. de Mello Castanho1 Francisco, Alicia de Teixeira, Evanilda |
Instituciones: | 1Universidade Federal de Santa Catarina, Florianopolis, Santa Catarina. Brasil |
Año: | 1999 |
Periodo: | Sep-Dic |
Volumen: | 19 |
Número: | 3 |
Paginación: | 311-313 |
País: | Brasil |
Idioma: | Portugués |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Experimental, analítico |
Resumen en inglés | Currently, traditional microscopy is used to detect frauds in ground coffee. A more efficient and rapid microscopical method, scanning electronic microscopy (SEM), is suggested as an alternative to the traditional microscopy. Pure coffee was compared to coffee samples adulterated with rye, barley, corn and wheat at 2,5, 5 and 10% levels. Contrary of official microscopy, starch granules, the main component of all cereals, were detected easily in the adulterated coffee mixtures with SEM. It is suggested SEM as a method to detect coffee adulteration with cereals |
Resumen en portugués | Atualmente a detecção de fraudes em café em pó, desengordurado e tamizado, é realizada por microscopia ótica. Assim, propõe-se um método alternativo de microscopia, mais rápido e eficiente do que o usado atualmente para a detecção de fraudes amiláceas em café torrado e moído: a microscopia eletrônica de varredura. Comparou-se café puro com café fraudado com 2,5, 5 e 10% de centeio, cevada, milho e trigo. Em todas as análises de microscopia eletrônica de varredura (SEM) de café fraudado, detectou-se, facilmente, a presença de amido, o que não ocorreu na microscopia ótica. Sugere-se o uso de microscopia eletrônica de varredura como um método para a identificação de cereais como adulterantes em café |
Disciplinas: | Química |
Palabras clave: | Química de alimentos, Café tostado, Adulteración, Almidón, Microscopía electrónica de barrido |
Keyword: | Chemistry, Food chemistry, Coffee, Adulteration, Starch, Scanning electron microscopy |
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