Structural characterization of liquid phase silicon carbide by high-resolution X-ray diffractometry
Título del documento: Structural characterization of liquid phase silicon carbide by high-resolution X-ray diffractometry
Revue: Ceramica (Sao Paulo)
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000248362
ISSN: 0366-6913
Autores: 1


2
Instituciones: 1Faculdade de Engenharia Quimica de Lorena, Lorena, Sao Paulo. Brasil
2Laboratorio Nacional de Luz Sincrotron, Campinas, Sao Paulo. Brasil
Año:
Periodo: Abr-Jun
Volumen: 51
Número: 318
Paginación: 168-172
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental, descriptivo
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería de materiales,
Carburo de silicio,
Estructura cristalina,
Aditivos
Keyword: Engineering,
Materials engineering,
Silicon carbide,
Crystal structure,
Additives
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