Journal: | Superficies y vacío |
Database: | PERIÓDICA |
System number: | 000252133 |
ISSN: | 1665-3521 |
Authors: | Zapata Torres, M1 Mascarenhas, Y.P2 Castro Rodríguez, R3 Meléndez Lira, M Calzadilla, O4 |
Institutions: | 1Instituto Politécnico Nacional, Altamira, Tamaulipas. México 2Universidade de Sao Paulo, Sao Carlos, Sao Paulo. Brasil 3Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México 4Universidad de La Habana, Facultad de Física, La Habana. Cuba |
Year: | 2001 |
Season: | Dic |
Volumen: | 13 |
Pages: | 69-71 |
Country: | México |
Language: | Inglés |
Document type: | Artículo |
Approach: | Experimental, descriptivo |
Disciplines: | Ingeniería |
Keyword: | Ingeniería de materiales, Telurido de indio, Semiconductores, Difracción, Espectroscopía Raman |
Keyword: | Engineering, Materials engineering, Indium telluride, Semiconductors, Diffraction, Raman spectroscopy |
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