Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso
Título del documento: Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso
Revista: Superficies y vacío
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000252138
ISSN: 1665-3521
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
Año:
Periodo: Dic
Volumen: 13
Paginación: 92-96
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental, descriptivo
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería de materiales,
Materiales porosos,
Películas,
Propiedades ópticas,
Fotoluminiscencia
Keyword: Engineering,
Materials engineering,
Porous materials,
Films,
Optical properties,
Photoluminescence
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