Journal: | Superficies y vacío |
Database: | PERIÓDICA |
System number: | 000404984 |
ISSN: | 1665-3521 |
Authors: | Camacho Pernas, V1 Ramos García, R1 Stepanov, S1 Mansurova, S1 Bittner, R2 Meerholz, K2 |
Institutions: | 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Tonantzintla, Puebla. México 2University of Munich, Chemistry Department, Munich, Baviera. Alemania |
Year: | 2003 |
Season: | Dic |
Volumen: | 16 |
Number: | 4 |
Pages: | 14-17 |
Country: | México |
Language: | Español |
Document type: | Artículo |
Approach: | Analítico |
Spanish abstract | Se presentan los resultados de caracterización de los polímeros fotorrefractivos (FR) basados en PVK (poly(Nvinylcarbazole)) por medio de las técnicas de las rejillas dinámicas. Las técnicas aplicadas fueron la mezcla de dos ondas (TWM por sus siglas en ingles) modulada en fase y la detección de corrientes alternas basadas en el efecto de fuerza foto-electromotriz (P-EMF por sus siglas en ingles) de estado no estacionario. En ambas técnicas el material fue iluminado por una rejilla dinámica de luz, i.e. por un patrón de interferencia oscilante. La técnica de TWM detecta la intensidad del haz difractado de la rejilla del índice de refracción formada en el material y permite evaluar amplitud y la fase de la rejilla del campo de carga espacial. La técnica de P-EMF utiliza la detección de corriente alterna que se forma debido a la interacción de la rejilla de fotoconductividad y la rejilla del campo de carga espacial. Esta técnica permite determinar el tiempo de vida de portadores mayoritarios y el tiempo de relajación dieléctrica |
Disciplines: | Física y astronomía, Ingeniería, Química |
Keyword: | Física de materia condensada, Optica, Ingeniería de materiales, Química de polímeros, Estado sólido, Materiales orgánicos, Fotorrefracción |
Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Chemistry, Condensed matter physics, Optics, Materials engineering, Polymer chemistry, Solid state, Organic materials, Photorefraction |
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