| Journal: | Revista mexicana de física |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000325875 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Authors: | Santiago Tepantlán, C1 Pérez González, A.M1 Valeriano Arreola, I2 |
| Institutions: | 1Universidad Politécnica de Tulancingo, Tulancingo, Hidalgo. México 2Universidad Popular Autónoma del Estado de Puebla, Puebla. México |
| Year: | 2008 |
| Season: | Abr |
| Volumen: | 54 |
| Number: | 2 |
| Pages: | 112-117 |
| Country: | México |
| Language: | Inglés |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Analítico, descriptivo |
| Spanish abstract | Resumen Películas delgadas de sulfuro de cadmio han sido preparadas por el método químico de rocío pirolítico, variando la temperatura del substrato en el intervalo de 200 a 400°C. Las propiedades estructurales del material obtenido fueron estudiadas utilizando la técnica de difracción de rayos X, y los patrones de difracción muestran la presencia de la fase hexagonal del CdS. Se obtuvo un ancho de banda entre 2.37 y 2.41 eV, en función de la temperatura de depósito. Las curvas de índice de refraccion fueron obtenidas a partir del espectro de transmisión y por mediciones espectroelipsometricas, de manera que los parámetros ópticos fueron obtenidos usando los modelos de Swanepoel, Cauchy, Sellmeier y Wemple. La resistividad eléctrica en condiciones de oscuridad varío en el rango de 103–105Ω.cm, dependiendo de la temperatura del substrato. Un análisis de los efectos del método de depósito en las propiedades de las películas es presentado |
| English abstract | Abstract Cadmium sulphide (CdS) thin films were prepared by means of the chemical spray pyrolysis technique. The substrate temperature was varied in the range from 200 to 400°C. The structural properties of the semiconductor were characterized by X–ray diffraction; XRD patterns indicated the presence of single–phase hexagonal CdS. Direct band gap values of 2.37–2.41 eV were obtained. The refractive index is reported on depending on the substrate temperature, and was obtained from transmission spectra and from spectroellipsometry measurements. As a consequence, the optical parameters of the films were determined using the Swanepoel, Cauchy, Sellmeier and Wemple models. The resistivity of the films was found to vary in the range 103 105Ω.cm, depending on the substrate temperature |
| Disciplines: | Física y astronomía |
| Keyword: | Física atómica y molecular, Optica, Sulfuro de cadmio, Rocío pirolítico, Propiedades estructurales, Propiedades eléctricas |
| Keyword: | Physics and astronomy, Atomic and molecular physics, Optics, Cadmium sulphide, Spray pyrolysis, Structural properties, Electrical properties |
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