Optical properties of Er-doped GaN



Document title: Optical properties of Er-doped GaN
Journal: Revista mexicana de física
Database: PERIÓDICA
System number: 000333901
ISSN: 0035-001X
Authors: 1
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3
4
5
Institutions: 1Instituto Mexicano del Petróleo, México, Distrito Federal. México
2Korea Institute of Science and Technology Information, Semiconductor Devices Laboratory, Seúl. Corea del Sur
3University of Technology, Department of Electrical and Electronic Engineering, Toyohashi. Japón
4Silla University, Department of Photonics, Busan. Corea del Sur
5Korea University, Department of Materials Science and Engineering, Seúl. Corea del Sur
Year:
Season: Ene
Volumen: 53
Number: 1
Pages: 9-12
Country: México
Language: Inglés
Document type: Artículo
Approach: Experimental
Spanish abstract Las propiedades ópticas de epicapas de GaN dopadas con Er (erbium) se han investigado usando fotoluminiscencia (FL). Varias dosis de iones de Er se implantaron en epicapas de GaN por implantación de iones. Se observaron líneas claramente visibles de emisión verde debidas a la transición de la capa interna 4f para Er3+ del espectro de FL de GaN implantado con Er. El espectro de emisión consiste en dos líneas verdes delgadas a 537 y 558 nm. Las líneas de emisión verdes se identifican como transiciones del Er3+ de los niveles 5H11/2 y 4S3/2 al estado base 4I15/2; los picos más fuertes en la muestra de 5 × 1014 cm–2, junto con la intensidad relativamente más alta de la luminiscencia Er3+ en la muestra dopada inferior. Esto implica que aún permanece algún daño en la muestra de 1 × 1015 cm–2. Las posiciones pico de las líneas de emisión debidas a las transiciones internas 4f para Er3+ no cambian con la temperatura creciente. Esto indica que la emisión relacionada con Er3+ depende muy poco de la temperatura del ambiente
English abstract Optical properties of Er (Erbium)–doped GaN epilayers have been investigated using photoluminescence (PL). Various doses of Er ions were implanted on GaN epilayers by ion implantation. Sharp visible green emission lines due to inner 4f shell transitions for Er3+ were observed from the PL spectrum of Er–implanted GaN. The emission spectrum consists of two narrow green lines at 537 and 558 nm. The green emission lines are identified as Er3+ transitions from the 5H11/2 and 4S3/2 levels to the 4I15/2 ground state. The stronger peaks in the 5 × 10 14 cm–2 sample, together with the relatively higher intensity of the Er3+ luminescence in the lower doped sample, imply that some damage remains in the 1 × 1015 cm–2 sample. The peak positions of emission lines due to inner 4f shell transitions for Er3+ do not change with increasing temperature. This indicates that Er3+ related emission depends very little on the ambient temperature
Disciplines: Ingeniería
Keyword: Ingeniería de materiales,
Ingeniería electrónica,
Nitruro de galio,
Implantación de iones,
Erbio,
Fotoluminiscencia,
Fotoelectrónica
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
Materials engineering,
Gallium nitride,
Ions implantation,
Erbium,
Photoluminescence,
Photoelectronics
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