| Journal: | Revista mexicana de física |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000406624 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Authors: | Rayas, J.A1 Rodríguez Vera, R1 Martínez, A1 |
| Institutions: | 1Centro de Investigaciones en Optica A.C., León, Guanajuato. México |
| Year: | 2003 |
| Season: | Dic |
| Volumen: | 49 |
| Number: | 6 |
| Pages: | 555-564 |
| Country: | México |
| Language: | Español |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Analítico |
| Spanish abstract | Es conocido que el módulo de elasticidad o módulo de Young relaciona el esfuerzo con la deformación unitaria que experimenta un objeto al ser sometido a cargas externas. En este trabajo se presenta la implementación de la interferometría electrónica de patrones de moteado (ESPI) como técnica para medir las deformaciones que sufre el hule látex al ser sometido a cargas de tensión. Aunado a la medición de las cargas tensionantes (mediante un dinamómetro digital), se determina el módulo de Young del objeto bajo prueba. El valor determinado mediante la técnica ESPI es comparado con uno obtenido mediante un ensayo a tensión realizado en un dispositivo diseñado y construido en el laboratorio (el cual es equivalente a una máquina de ensayos comercial); corroborando así la veracidad de la técnica ESPI usada como extensómetro interferométrico |
| English abstract | It is well know that the module of elasticity or Young's module relates the stress to the strain that suffers a object, which is yielded to external loads. In this work we show the implementation of the Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) as a technique to measure deformations on a piece of latex when it is subjected to external loads. Along with the measurement of tension loads (by means of a digital dynamometer), we determine the Young's module of the object under test. The value determined by using the ESPI technique is compared with that obtained in a device designed and constructed in our laboratory (which is equivalent to a commercial testing machine). It is demonstrated the veracity of the ESPI technique applied as an interferometric extensometer |
| Disciplines: | Física y astronomía |
| Keyword: | Física, Física de materia condensada, Metrología, Instrumentación, Interferómetros, Módulo de Young, Metrología óptica |
| Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Physics, Metrology, Instrumentation, Interferometers, Young's modulus, Optical metrology |
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