La extinción primaria y el factor estático de Debye-Waller en la caracterización de níquel con textura mediante difracción de rayos X



Document title: La extinción primaria y el factor estático de Debye-Waller en la caracterización de níquel con textura mediante difracción de rayos X
Journal: Revista mexicana de física
Database: PERIÓDICA
System number: 000388864
ISSN: 0035-001X
Authors: 1
2
3
1
Institutions: 1Instituto Politécnico Nacional, Escuela Superior de Física y Matemáticas, México, Distrito Federal. México
2Instituto Politécnico Nacional, Escuela Superior de Ingeniería Química e Industrias Extractivas, México, Distrito Federal. México
3Instituto Politécnico Nacional, Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica, México, Distrito Federal. México
Year:
Season: Jul-Ago
Volumen: 61
Number: 4
Pages: 272-280
Country: México
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Analítico, teórico
Spanish abstract El análisis de textura mediante difracción de rayos X (DRX) implica la medición de figuras de polos (FPs) a partir de las intensidades difractadas, considerando el modelo de la dispersión cinemática. El fenómeno de extinción resulta en una disminución de la intensidad difractada, que a su vez disminuye las densidades de polos (DPs). El fenómeno aparece en la teoría cinemática de DRX como extinción primaria y extinción secundaria, para caracterizar la pérdida de la intensidad de dispersión cinemática. A su vez, el factor estático de Debye-Waller es una característica integral de los defectos en cristales introducida en la teoría cinemática de DRX y también se utiliza en la teoría dinámica de DRX. En este trabajo se determinó la correlación entre el coeficiente de extinción primaria y el factor estático de Debye-Waller en el caso de níquel con textura. El valor del factor estático de Debye-Waller se determinó a partir del valor del coeficiente de extinción primaria calculado. Para la evaluación, se utilizaron las DPs en el máximo de las FPs obtenidas para las reflexiones 111 y 200 con radiación de MoKα, y también las obtenidas para los órdenes primero y segundo de estas reflexiones, con radiaciones de Cu Kα y de Co Kα. Usando el valor del factor estático de Debye-Waller y los coeficientes de extinción, se calcularon las densidades de dislocaciones en los granos. Las densidades de dislocaciones calculadas usando estas dos características son prácticamente iguales
English abstract The texture analysis using X-ray diffraction (XRD) implies measurement of pole figures (PFs) from the diffracted intensities considering the model of kinematical dispersion. The extinction phenomenon results in a decrease of diffracted intensity and that in turn in a decrease of pole densities (PDs). The phenomenon appears in the kinematical theory of XRD as the primary extinction and the secondary extinction to characterize the loss of intensity of kinematical dispersion. In turn, the static Debye-Waller factor is an integral characteristic of defects in crystals that is introduced in the kinematical theory of XRD and also is used in dynamical theory of XRD. In this work the correlation between the primary extinction coefficient and the static Debye-Waller factor in the case of textured nickel was determined. The value of static Debye-Waller factor was determined from the value of the calculated primary extinction coefficient. For the evaluation there were used PDs in the maxima of PFs obtained for 111 and 200 reflections with MoKα radiation, and the PDs in the maxima of PFs obtained for the first and second orders of these reflections with Cu Kα and Co Kα radiations. There were calculated the dislocation densities in grains using values of static Debye-Waller factor and the extinction coefficients. The dislocation densities calculated from these two characteristics are practically equal
Disciplines: Física y astronomía
Keyword: Física de materia condensada,
Difracción de rayos X,
Extinción,
Factor estático,
Textura,
Microestructuras
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
X-ray diffraction,
Extinction,
Static factor,
Texture,
Microstructures
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