| Journal: | Revista mexicana de física |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000347312 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Authors: | Espinosa Luna, R1 Atondo Rubio, G2 Hinojosa Ruiz, S3 |
| Institutions: | 1Centro de Investigaciones en Optica A.C., León, Guanajuato. México 2Universidad Autónoma de Sinaloa, Escuela de Ciencias Físico-Matemáticas, Culiacán, Sinaloa. México 3Universidad Autónoma de Zacatecas, Facultad de Física, Zacatecas. México |
| Year: | 2011 |
| Season: | Dic |
| Volumen: | 57 |
| Number: | 6 |
| Pages: | 524-527 |
| Country: | México |
| Language: | Inglés |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Analítico, teórico |
| Spanish abstract | Se muestran imagenes visuales de la distribucion angular de la luz esparcida por superficies aleatoriamente rugosas unidimensionales, cuasiunidimensionales y bidimensionales, tanto en la geometrıa de incidencia plana, como en la conica. Utilizando un arreglo simple de escritorio, las imagenes muestran claramente el efecto del retroesparcimiento reforzado de la luz para esas muestras bajo una iluminacion de 633 nm de luz no-polarizada, emitida por un laser de He-Ne. De interes particular es el patron del retroesparcimiento reforzado circularmente simetrico, asociado a la superficie bidimensional uniformemente rugosa empleada. Los perfiles de las superficies caracterizadas pueden modelarse como procesos Gaussianos aleatorios con funciones de correlacion tambien Gaussianas |
| English abstract | Direct visual images of the angular distribution of light scattered by one-dimensional, quasi-one-dimensional and two-dimensional randomly rough surfaces, in both plane- and conical-geometries of incidence, are shown. By using a simple desktop arrangement, the images clearly show the enhancement backscattering of light effect for these samples under a 633 nm wavelength, un-polarized, He-Ne laser illumination. Of particular interest is a circularly symmetric enhanced backscattering pattern associated to the uniformly two-dimensional rough surface employed. The surface profiles of the well-characterized samples can be modeled as a Gaussian random process with Gaussian correlation functions too |
| Disciplines: | Física y astronomía |
| Keyword: | Optica, Esparcimiento, Retroesparcimiento reforzado |
| Keyword: | Physics and astronomy, Optics, Scattering, Enhanced backscattering |
| Full text: | Texto completo (Ver PDF) |
