| Journal: | Revista mexicana de física |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000337700 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Authors: | Lepy, M.C1 Plagnard, J1 |
| Institutions: | 1CEA-Saclay, Laboratoire National Henri Becquerel, Gif-sur-Yvette, Essonne. Francia |
| Year: | 2007 |
| Season: | Feb |
| Volumen: | 53 |
| Number: | 3 |
| Pages: | 68-73 |
| Country: | México |
| Language: | Inglés |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Analítico, descriptivo |
| Spanish abstract | El instituto francés de metrología, Laboratoire National Henri Becquerel, realiza la caracterización exacta de los detectores a semiconductor que son utilizados en numerosas funciones. La calibración del rendimiento, la resolución en energía y la forma detallada de la "función respuesta" de estos detectores, son parámetros de interés para el tratamiento exacto de los espectros de rayos X de baja energía. Estos espectros, son aplicados a la identificación de los elementos y a la investigación fundamental. Las herramientas desarrolladas específicamente para calibración y caracterización de los detectores de rayos X de baja energía son descritos: del uso del estándar de la radioactividad al desarrollo de una fuente monocromática de rayos X |
| English abstract | In the frame of the French Metrology Institute, the Laboratoire National Henri Becquerel performs accurate characterization of semiconductor detectors that are in use in a number of applications. Their efficiency calibration, energy resolution and the detailed shape of their response function are parameters of interest for accurate processing of low-energy X-ray spectra to be applied to elements identification and fundamental research studies. The tools specifically developed for low-energy detectors calibration and characterization are described, from the use of radioactivity standard to the development of a tunable monochromatic X-ray source |
| Disciplines: | Física y astronomía, Ingeniería |
| Keyword: | Física nuclear, Ingeniería de instrumentos, Espectrometría, Detectores a semiconductor, Calibración, Metrología |
| Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Nuclear physics, Instrumentation engineering, Spectrometry, Semiconductor detectors, Calibration, Metrology |
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