| Journal: | Revista mexicana de física |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000336778 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Authors: | Andrade, E1 Rocha, M.F2 Zavala, E.P1 Jergel, Mi3 Falcony, C3 |
| Institutions: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, México, Distrito Federal. México 2Instituto Politécnico Nacional, Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica, México, Distrito Federal. México 3Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México |
| Year: | 2008 |
| Season: | Feb |
| Volumen: | 54 |
| Pages: | 1-4 |
| Country: | México |
| Language: | Inglés |
| Document type: | Conferencia o discurso |
| Approach: | Experimental, aplicado |
| Spanish abstract | Bombardeo de materiales con haces de iones producidos por un acelerador de partículas fueron usados para medir la composición elemental y su perfil en profundidad de películas delgadas superconductoras de MgB2depositadas sobre sustratos de carbon vidriado (Good Fellows) y zafiro (Al2O3). Para cada tipo de sustrato, obtuvimos un par de muestras, es decir, película precursora amorfa y película superconductora, las cuales fueron caracterizadas. Un haz de 3He+fue usado para bombardear tanto las películas precursoras y superconductoras para obtener su composición elemental. Los valores de la resistencia nula Tcoy la resistencia media de transicion Tcmfueron 26.0 K y 29.7 K para las películas superconductoras de MgB2depositadas sobre los sustratos de carbón vidriado. En el caso cuando se uso zafiro como sustrato los valores deTco y Tcm fueron 25.0 K y 27.9 K |
| English abstract | IBA methods were applied to measure elemental depth profiles of precursors and superconducting MgB2 thin films deposited on glassy carbon (Good Fellows) and sapphire (Al2O3) substrates. For each type of substrates we obtained a pair of samples i.e. one amorphous precursor and one superconducting film which were then characterized. A 3He+ beam was used to bombard both, precursors and superconducting films in order to obtain the samples elemental composition profiles. The zero resistance Tcoand the middle of transition Tcm values were 26.0K and 29.7K for the MgB2 film deposited on glassy carbon substrate. In the case of sapphire substrate the Tco and Tcm values were 25.0K and 27.9K, respectively |
| Disciplines: | Física y astronomía |
| Keyword: | Física atómica y molecular, Ingeniería de materiales, Películas superconductoras, Análisis de materiales, Bombardeo de iones |
| Keyword: | Physics and astronomy, Atomic and molecular physics, Materials engineering, Superconducting films, Materials analysis, Ion bombing |
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