Estudio de películas delgadas de Cd1-xZnxTe por medio de difracción de rayos X
Document title: Estudio de películas delgadas de Cd1-xZnxTe por medio de difracción de rayos X
Journal: Revista colombiana de física
Database: PERIÓDICA
System number: 000141667
ISSN: 0120-2650
Authors: 1
Institutions: 1Universidad del Quindío, Laboratorio de Optoelectrónica, Armenia, Quindío. Colombia
2Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
Year:
Volumen: 29
Number: 2
Pages: 159-162
Country: Colombia
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Analítico
Disciplines: Física y astronomía
Keyword: Física de materia condensada,
Películas delgadas,
Difracción,
Rayos X,
Semiconductores
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Thin films,
X-rays,
Diffraction,
Semiconductors
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