| Journal: | Nova scientia |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000390455 |
| ISSN: | 2007-0705 |
| Authors: | Parra Michel, Jorge Ramón1 Martínez García, Amalia2 |
| Institutions: | 1Universidad De La Salle Bajío, León, Guanajuato. México 2Centro de Investigaciones en Optica A.C., León, Guanajuato. México |
| Year: | 2013 |
| Season: | Abr |
| Volumen: | 5 |
| Number: | 9 |
| Pages: | 51-75 |
| Country: | México |
| Language: | Español |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Aplicado, descriptivo |
| Spanish abstract | La ventaja del uso de las técnicas interferométricas basados en el patrón de moteado ESPI (electronic speckle pattern interferometry) es única ya que se pueden hacer mediciones muy precisas de los campos de desplazamientos que ocurren en la superficie de algún elemento mecánico cuando se deforma. Sin embargo, cuando se utiliza la iluminación divergente, se observa que la medición de los campos de desplazamientos está en función de la topografía del objeto. Por tal motivo, antes de evaluar las deformaciones mecánicas por la técnica ESPI con iluminación divergente es necesario conocer la topografía del objeto. La estimación de la incertidumbre estándar de las mediciones de los campos de desplazamiento debe de contemplar la incertidumbre de las mediciones de la topografía que se propaga debido a la ley generalizada de la propagación de la incertidumbre. En este trabajo se muestra el uso de la técnica de Monte Carlo para el cálculo de la incertidumbre estándar para la las mediciones de los campos de desplazamiento y la topografía de superficie de objetos mediante la técnica de interferometría electrónica del patrón de moteado con iluminación dual y divergente |
| English abstract | Is unique the advantage of interferometric techniques based in speckle phenomena. A Hole field measurement in mechanical elements can be obtained with height precision when they are under deformation. However, when divergent illumination is used, we can see that topography measurement is a function of the shape of the object. Therefore, before evaluating the mechanical deformations by ESPI with divergent illumination is necessary to know the topography of the object. The estimated standard uncertainty of the measurements of displacement fields must consider uncertainty measurement of the topography that spreads due to generalized law of propagation of uncertainty. This work we show the use of Monte Carlo technique to calculate the standard uncertainty for the measurement of displacement fields and surface topography using the technique of interferometry electronic speckle pattern with dual illumination and divergent |
| Disciplines: | Física y astronomía, Matemáticas |
| Keyword: | Optica, Matemáticas aplicadas, Topografía, Interferometría de moteado, Incertidumbre, Campo de desplazamiento, Monte Carlo |
| Keyword: | Physics and astronomy, Mathematics, Optics, Applied mathematics, Topography, Speckle interferometry, Field displacement, Uncertainty, Monte Carlo |
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