Point pattern methods for analyzing industrial location



Document title: Point pattern methods for analyzing industrial location
Journal: Investigación económica
Database: CLASE
System number: 000508401
ISSN: 0185-1667
Authors: 1
2
Institutions: 1Universidad Complutense de Madrid, Madrid. España
2Universidad Complutense de Madrid, Instituto Complutense de Estudios Internacionales, Madrid. España
Year:
Season: Oct-Dic
Volumen: 79
Number: 314
Country: México
Language: Inglés
Document type: Artículo
Approach: Analítico, descriptivo
Spanish abstract La literatura sobre métodos de análisis de patrones de puntos para estudiar la concentración geográfica de las empresas ha aumentado espectacularmente en la última década. La revisión de la literatura empírica muestra que la mayoría de los métodos son principalmente exploratorios, mientras que otros se centran en la identificación de los determinantes de la aglomeración. En este artículo se analizan las características clave que subrayan las diferencias entre los métodos exploratorios: forma funcional, selección de controles, significación de los resultados y tratamiento de los efectos borde. Además, se destaca el potencial y la complementariedad de nuevos métodos como los modelos de Gibbs
English abstract Literature on point pattern methods for analyzing geographical concentration of firms has increased dramatically over the last decade. Revision of the state of the art in empirical applications shows that most methods are mainly exploratory while others focus on the identification of cluster determinants. We contribute in this regard by analyzing key features that underline the differences among exploratory methods: Functional form, selection of controls, significance of results, and treatment of edge effects. We also stress the potential and complementarity of new methods such as Gibbs models
Disciplines: Economía
Keyword: Econometría,
Localización industrial,
Análisis de patrones de puntos,
Modelos de Gibbs,
Medidas basadas en la distancia
Keyword: Econometrics,
Industrial location,
Point pattern analysis,
Gibbs models,
Distance-based measures
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