Revista: | Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000090221 |
ISSN: | 0258-5944 |
Autores: | Folgueras Mendez, J1 Cruz Nogueiras, A. de la Almeyda Verdaguer, R Rodriguez Rodriguez, A.M |
Instituciones: | 1Instituto Central de Investigación Digital, La Habana. Cuba |
Año: | 1985 |
Periodo: | Feb |
Volumen: | 6 |
Número: | 1 |
Paginación: | 35-40 |
País: | Cuba |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Descriptivo, experimental |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Longitudes micrometricas, Medición, Microscopio óptico, Indicacion digital, Errores |
Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Micrometric lengths, Measurement, Optic microscope, Digital indication, Errors |
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