Estudio de la variacion de beta en las estructuras mos
Document title: Estudio de la variacion de beta en las estructuras mos
Journal: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Database: PERIÓDICA
System number: 000051319
ISSN: 0258-5944
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Fac Electonica, La Habana. Cuba
Year:
Season: Jul
Volumen: 2
Number: 2
Pages: 203-221
Country: Cuba
Document type: Artículo
Approach: Experimental
Disciplines: Ingeniería
Keyword: Ingeniería electrónica,
Corriente-ganancia,
MOS,
Transistores
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
Current gain,
Mos,
Transistors
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