Caracterización por espectroscopía en el infrarrojo de óxidos de silicio depositados en ambiente de N2O



Título del documento: Caracterización por espectroscopía en el infrarrojo de óxidos de silicio depositados en ambiente de N2O
Revista: Superficies y vacío
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000404892
ISSN: 1665-3521
Autores: 1
1
Instituciones: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
Año:
Periodo: Jun
Volumen: 16
Número: 2
Paginación: 16-18
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Resumen en español Se depositaron películas de óxido de silicio (SiOx:N) sobre silicio en un horno convencional en ambiente de óxido nitroso (N2O) a temperaturas entre 900 y 1100° C. Para cada temperatura se varió la presión entre 1 y 3 atmósferas. Por medio de FT-IR se muestra que la composición de estas capas es aproximadamente la del dióxido de silicio (SiO2) acercándose más a la de este material entre mayores sean la presión y la temperatura de crecimiento de las películas. Esto confirma que la concentración del nitrógeno incorporado en las capas es pequeña y localizada en una región muy estrecha dentro de las mismas
Resumen en inglés Silicon oxide films (SiOx:N) were deposited on silicon in a conventional furnace using nitrous oxide (N2O) as the oxidizing atmosphere at temperatures between 900 and 1100° C. For each temperature the pressure was varied between 1 and 3 atmospheres. By means of FT-IR we have shown that the stoichiometry of these layers is approximately that of silicon dioxide (SiO2), approaching more to this material the higher the growth temperature and pressure are. This confirms that the concentration of the nitrogen incorporated into the layers is small and located in a very narrow region within the films
Disciplinas: Física y astronomía,
Ingeniería
Palabras clave: Física de materia condensada,
Ingeniería de materiales,
Películas delgadas,
Oxido de silicio,
Oxido nitroso,
Espectroscopía
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Condensed matter physics,
Materials engineering,
Thin films,
Silicon oxide,
Nitrous oxide,
Spectroscopy
Texto completo: Texto completo (Ver PDF)