Revista: | Revista mexicana de ingeniería química |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000240757 |
ISSN: | 1665-2738 |
Autores: | Barrera Calva, E1 Martínez Flores, J.C Viveros García, Tomás Avila García, A2 Rodil, S3 Huerta Arcos, L |
Instituciones: | 1Universidad Autónoma Metropolitana, Departamento de Ingeniería de Procesos e Hidráulica, Iztapalapa, Distrito Federal. México 2Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México 3Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Investigaciones en Materiales, México, Distrito Federal. México |
Año: | 2005 |
Periodo: | Ago |
Volumen: | 4 |
Número: | 2 |
Paginación: | 147-156 |
País: | México |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Experimental, descriptivo |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Oxido de cobalto, Propiedades ópticas, Elipsometría, Película |
Keyword: | Engineering, Materials engineering, Cobalt oxide, Optical properties, Ellipsometry, Films |
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