Revista: | Revista cubana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000015574 |
ISSN: | 0253-9268 |
Autores: | Ravelo Triana, J1 Diaz Delgado, R.A Martinez Mesa, P.V |
Instituciones: | 1Academia de Ciencias de Cuba, Buro Especial Construccion Instrumentos Cientificos, La Habana. Cuba |
Año: | 1991 |
Volumen: | 11 |
Número: | 1 |
Paginación: | 49-59 |
País: | Cuba |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Física y astronomía |
Palabras clave: | Física de materia condensada, Optica, Películas, Estructuras, Elipsometría, Medicion-espesor, Indice de refracción |
Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Optics, Films, Structures, Ellipsometry, Refractive index, Thickness measurement |
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