Crecimiento, desorción térmica y daño por bombardeo iónico en films de C60depositados sobre Cu(111)



Título del documento: Crecimiento, desorción térmica y daño por bombardeo iónico en films de C60depositados sobre Cu(111)
Revista: Anales AFA
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000398490
ISSN: 1850-1168
Autores: 1
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1
Instituciones: 1Universidad Nacional del Litoral, Instituto de Física del Litoral, Santa Fe. Argentina
Año:
Volumen: 27
Número: 2
Paginación: 67-72
País: Argentina
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Resumen en español En el presente trabajo caracterizamos el crecimiento y desorción térmica de C60 sobre Cu(111) por medio de espectroscopia de electrones Auger (AES) y difracción de electrones de baja energía (LEED). Las películas de C60 fueron crecidas sobre el sustrato por sublimación de C60 desde una celda de Knudsen a 350°C, dentro de una cámara de ultra alto vacío (~10-9Torr). También,determinamos las condiciones de medición de espectros de dispersión de iones lentos (LEIS), estimando el daño por irradiación producido por las dosis típicas utilizadas en estos experimentos (~1014 iones/cm2 ). Para analizar el daño por bombardeo iónico (H+ , He+ y Ar+ , con energías de incidencia de 2, 4 y 8 keV) de las películas de C60 se siguió la evolución temporal del plasmón característico de los enlaces π de los átomos de Carbono que conforman la molécula de C60, mediante espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS). Además, se tomaron espectros Auger antes y después del bombardeo para caracterizar y cuantificar el daño producido. El presente estudio muestra que: el crecimiento de C60 sobre Cu(111) es capa tras capa; la desorción de la primera monocapa es diferente a las demás, quedando solo una monocapa cuando es calentado a 500°C; y solo se detectó daño por irradiación, para las dosis relevantes, cuando la muestra fue bombardeada con Ar+
Resumen en inglés Auger Electron Spectroscopy (AES) and Low Energy Electron Diffraction (LEED) were used to characterize the growth and thermal desorption of C60 on Cu(111). C60 films were grown by sublimation from a Knudsen cell at 350°C, placed in an ultra-high vacuum chamber (UHV) (~10-9Torr). We estimated the best conditions to obtain low energy ion scattered spectra (LEIS) by measuring the irradiation damage produced by typical doses used in theseexperiments (~1014iones/cm2 ). In order to analyze the potential damage of the sample by ion bombardment (2 , 4 and 8 keV H+ , He+ and Ar+ ), we monitored the evolution of the characteristicplasmon due to π-bonds of the C60 molecule C atoms by Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS). In addition, Auger spectra (AES) were taken before and after irradiation to characterize and quantify the damage. Our study shows that: C60 growths on Cu(111) layer by layer; the desorption of the first monolayer is different to the desorption of the other layers, remaining the first monolayer even when the substrate is heated up to 500°C and; damage by ion bombardment, at the used dose, was only detected when the sample was under Ar+ irradiation
Disciplinas: Física y astronomía,
Ingeniería
Palabras clave: Física de materia condensada,
Ingeniería de materiales,
Física de superficies,
Crecimiento,
Fullerenos,
Películas delgadas,
Bombardeo iónico,
Buckminsterfullereno,
Desorción térmica
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Condensed matter physics,
Materials engineering,
Surface physics,
Growth,
Fullerenes,
Thin films,
Ionic bombardment,
Buckminsterfullerene,
Thermal desorption
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