| Revista: | Anales AFA |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000398490 |
| ISSN: | 1850-1168 |
| Autores: | Vidal, R.A1 Bonetto, F1 Quintero Riascos, V1 Bonin, C.J1 Ferrón, J1 |
| Instituciones: | 1Universidad Nacional del Litoral, Instituto de Física del Litoral, Santa Fe. Argentina |
| Año: | 2016 |
| Volumen: | 27 |
| Número: | 2 |
| Paginación: | 67-72 |
| País: | Argentina |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico |
| Resumen en español | En el presente trabajo caracterizamos el crecimiento y desorción térmica de C60 sobre Cu(111) por medio de espectroscopia de electrones Auger (AES) y difracción de electrones de baja energía (LEED). Las películas de C60 fueron crecidas sobre el sustrato por sublimación de C60 desde una celda de Knudsen a 350°C, dentro de una cámara de ultra alto vacío (~10-9Torr). También,determinamos las condiciones de medición de espectros de dispersión de iones lentos (LEIS), estimando el daño por irradiación producido por las dosis típicas utilizadas en estos experimentos (~1014 iones/cm2 ). Para analizar el daño por bombardeo iónico (H+ , He+ y Ar+ , con energías de incidencia de 2, 4 y 8 keV) de las películas de C60 se siguió la evolución temporal del plasmón característico de los enlaces π de los átomos de Carbono que conforman la molécula de C60, mediante espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS). Además, se tomaron espectros Auger antes y después del bombardeo para caracterizar y cuantificar el daño producido. El presente estudio muestra que: el crecimiento de C60 sobre Cu(111) es capa tras capa; la desorción de la primera monocapa es diferente a las demás, quedando solo una monocapa cuando es calentado a 500°C; y solo se detectó daño por irradiación, para las dosis relevantes, cuando la muestra fue bombardeada con Ar+ |
| Resumen en inglés | Auger Electron Spectroscopy (AES) and Low Energy Electron Diffraction (LEED) were used to characterize the growth and thermal desorption of C60 on Cu(111). C60 films were grown by sublimation from a Knudsen cell at 350°C, placed in an ultra-high vacuum chamber (UHV) (~10-9Torr). We estimated the best conditions to obtain low energy ion scattered spectra (LEIS) by measuring the irradiation damage produced by typical doses used in theseexperiments (~1014iones/cm2 ). In order to analyze the potential damage of the sample by ion bombardment (2 , 4 and 8 keV H+ , He+ and Ar+ ), we monitored the evolution of the characteristicplasmon due to π-bonds of the C60 molecule C atoms by Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS). In addition, Auger spectra (AES) were taken before and after irradiation to characterize and quantify the damage. Our study shows that: C60 growths on Cu(111) layer by layer; the desorption of the first monolayer is different to the desorption of the other layers, remaining the first monolayer even when the substrate is heated up to 500°C and; damage by ion bombardment, at the used dose, was only detected when the sample was under Ar+ irradiation |
| Disciplinas: | Física y astronomía, Ingeniería |
| Palabras clave: | Física de materia condensada, Ingeniería de materiales, Física de superficies, Crecimiento, Fullerenos, Películas delgadas, Bombardeo iónico, Buckminsterfullereno, Desorción térmica |
| Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Condensed matter physics, Materials engineering, Surface physics, Growth, Fullerenes, Thin films, Ionic bombardment, Buckminsterfullerene, Thermal desorption |
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