An overview on parameter extraction in field effect transistors
Título del documento: An overview on parameter extraction in field effect transistors
Revista: Acta científica venezolana
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000174335
ISSN: 0001-5504
Autores: 1
Instituciones: 1Universidad Simón Bolívar, Departamento de Electrónica, Caracas, Distrito Federal. Venezuela
2University of Central Florida, Department of Electrical and Computer Engineering, Orlando, Florida. Estados Unidos de América
Año:
Volumen: 52
Número: 3
Paginación: 176-187
País: Venezuela
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
MOSFET,
Extracción de parámetros,
Dispositivos semiconductores,
Modelos matemáticos,
Transistores
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
MOSFET,
Parameter extraction,
Semiconductor devices,
Mathematical models,
Transistors
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