X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer gratting
Título del documento: X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer gratting
Revista: Superficies y vacío
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000252033
ISSN: 1665-3521
Autores: 1
2

3
Instituciones: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
2Fraunhhofer Institut fur Zerstorungsfreie Prufverfahren, Dresden, Sajonia. Alemania
3Slovak Academy of Sciences, Bratislava. Eslovaquia
Año:
Periodo: Dic
Volumen: 13
Paginación: 10-14
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física,
Multicapas,
Alambres cuánticos,
Difracción,
Reflectividad
Keyword: Physics and astronomy,
Physics,
Multilayers,
Quantum wires,
Diffraction,
Reflectivity
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