Amplitude and phase measument using reflection polarization mode of a prism-based surface plasmon resonance



Título del documento: Amplitude and phase measument using reflection polarization mode of a prism-based surface plasmon resonance
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000460768
ISSN: 0035-001X
Autores: 1
1
2
2
Instituciones: 1Universidad del Papaloapan, Loma Bonita, Veracruz. México
2Universidad Tecnológica de la Mixteca, Huajuapan de León, Oaxaca. México
Año:
Periodo: May-Jun
Volumen: 68
Número: 3
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, teórico
Resumen en inglés In this paper, the amplitude and phase characteristics of internal reflection of gold nanofilms are investigated using polarization modulation of electromagnetic radiation in the Kretschmann geometry, an excited wavelength of the Surface Plasmon Resonance (SPR) at 633 nm is considered. The numerical results that are presented in this work are based on the substrate, the variation of the thickness of the dielectric and the type of plasmonic material using gold (Ag), through the ellipsometry parameters Ψ and Δ
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Optica,
Plasmón de superficie,
Polarización,
Elipsometría,
Espesor de la película
Keyword: Optics,
Surface plasmon,
Polarization,
Ellipsometry,
Film thickness
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