Structural characterization of photoluminescent porous silicon with FTIR spectroscopy
Título del documento: Structural characterization of photoluminescent porous silicon with FTIR spectroscopy
Revista: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000134440
ISSN: 0103-9733
Autores: 1
Instituciones: 1Universidade de Sao Paulo, Esc. Politecnica, Lab. Microelectronica, Sao Paulo. Brasil
Año:
Periodo: Dic
Volumen: 27A
Número: 4
Paginación: 158-161
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Semiconductores,
Silicio poroso,
Fotoluminiscencia,
Espectroscopía
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Semiconductors,
Porous silicon,
Photoluminescence,
Spectroscopy
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