Novel applications of secondary ion mass spectroscopy in optoelectronic materials studies
Título del documento: Novel applications of secondary ion mass spectroscopy in optoelectronic materials studies
Revista: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000007975
ISSN: 0103-9733
Autores: 1
Instituciones: 1Bellcore, Red Bank, New Jersey. Estados Unidos de América
Año:
Periodo: Mar
Volumen: 24
Número: 1
Paginación: 450-455
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física atómica y molecular,
Física de materia condensada,
Materiales,
Semiconductores,
Optoelectrónica,
Iones secundarios,
Espectrometría de masas
Keyword: Physics and astronomy,
Atomic and molecular physics,
Condensed matter physics,
Materials,
Secondary ions,
Semiconductors,
Optoelectronics,
Mass spectrometry
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