The effect of extrinsic contamination on ion implantation gettering



Título del documento: The effect of extrinsic contamination on ion implantation gettering
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000017410
ISSN: 0035-001X
Autors: 1


Institucions: 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Tonantzintla, Puebla. México
Any:
Període: Dic
Volum: 41
Número: 6
Paginació: 897-904
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física de materia condensada,
Semiconductores,
Implantación de iones,
Recombinacion-portadores
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Semiconductors,
Ion implantation,
Carrier recombination,
Extrinsic contamination
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)