Simultaneous measure of refractive index and thickness of dielectric plane parallel plates by fringe counting: a case for generalized regression
Título del documento: Simultaneous measure of refractive index and thickness of dielectric plane parallel plates by fringe counting: a case for generalized regression
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000158168
ISSN: 0035-001X
Autors: 1
Institucions: 1Centro de Investigaciones en Optica A.C, León, Guanajuato. México
2Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Físico Matemáticas, Puebla. México
Any:
Període: Oct
Volum: 45
Número: 5
Paginació: 490-495
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física,
Optica,
Interferómetros,
Experimentos,
Interferencia,
Indice de refracción,
Dieléctricos
Keyword: Physics and astronomy,
Optics,
Physics,
Interferometers,
Experiments,
Interference,
Refractive index,
Dielectrics
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