Influence of oxide surface charge on the sine-voltage sweep c-v measurements
Título del documento: Influence of oxide surface charge on the sine-voltage sweep c-v measurements
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000024442
ISSN: 0035-001X
Autors: 1
Institucions: 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Ctr Inv Dispositivos Semiconductores, Puebla. México
Any:
Període: Oct
Volum: 42
Número: 5
Paginació: 832-835
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Ingeniería,
Física y astronomía
Paraules clau: Ingeniería eléctrica,
Física de materia condensada,
MOS,
Semiconductores,
Curva de zerbst
Keyword: Engineering,
Physics and astronomy,
Electrical engineering,
Condensed matter physics,
Mos,
Zerbst curve,
Semiconductors
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