Simultaneous determination of thickness and optical constants of thin films
Título del documento: Simultaneous determination of thickness and optical constants of thin films
Revista: Revista colombiana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000154581
ISSN: 0120-2650
Autores: 1
Instituciones: 1n & k Technology Inc, San José, California. Estados Unidos de América
2Conner Peripherals, Milpitas, California. Estados Unidos de América
Año:
Volumen: 29
Número: 1
Paginación: 19-32
País: Colombia
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Constantes ópticas,
Semiconductores,
Dieléctricos,
Películas delgadas
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Optical constants,
Semiconductors,
Dielectrics,
Thin films
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