Revista: | Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000031737 |
ISSN: | 0258-5944 |
Autors: | Trujillo-alvarado, H.S1 |
Institucions: | 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Electrónica, Cibernética y Comunicaciones, La Habana. Cuba |
Any: | 1981 |
Període: | Nov |
Volum: | 2 |
Número: | 3 |
Paginació: | 235-251 |
País: | Cuba |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico, teórico |
Disciplines | Ingeniería, Matemáticas |
Paraules clau: | Ingeniería electrónica, Matemáticas aplicadas, Confiabilidad, Estadística, MOS, Transistores, Voltaje-umbral |
Keyword: | Engineering, Mathematics, Electronic engineering, Applied mathematics, Mos, Reliability, Statistical distributions, Transistors, Voltage-threshold |
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