Revista: | Brazilian journal of physics |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000007916 |
ISSN: | 0103-9733 |
Autors: | Markov, V.A1 Sokolov, L.V Pchelyakov, O.P |
Institucions: | 1Russian Academy of Sciences, Institute of Semiconductor Physics, Novosibirsk. Rusia |
Any: | 1994 |
Període: | Mar |
Volum: | 24 |
Número: | 1 |
Paginació: | 77-85 |
País: | Brasil |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplines | Física y astronomía |
Paraules clau: | Física de materia condensada, Epitaxia, Elipsometría, Rheed-tecnica, Semiconductores, Nanoestructuras, Películas delgadas, Procesos-superficie |
Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Epitaxy, Thin films, Ellipsometry, Semiconductors, Nanostructures, Rheed technique, Surface processes |
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