EPR studies of microscopic structure of the (100) Si/SiO2 interface: current status and perspectives
Título del documento: EPR studies of microscopic structure of the (100) Si/SiO2 interface: current status and perspectives
Revista: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000132016
ISSN: 0103-9733
Autors: 1
Institucions: 1Universite de Paris VI (Pierre et Marie Curie), Groupe Physique Solides, París. Francia
Any:
Període: Jun
Volum: 27
Número: 2
Paginació: 314-324
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Química,
Física y astronomía
Paraules clau: Fisicoquímica y química teórica,
Física de materia condensada,
RPE,
Silicio,
Estructura microscópica,
Cristales,
Interfaces
Keyword: Chemistry,
Physics and astronomy,
Physical and theoretical chemistry,
Condensed matter physics,
EPR,
Silicon,
Microscopic structure,
Crystals,
Interface
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